- 专利标题: 一种基于频谱的斜视SAR点目标插值与剖面截取方法
- 专利标题(英): Squint SAR point target interpolation and section interception method based on frequency spectrum
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申请号: CN201410353805.4申请日: 2014-07-23
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公开(公告)号: CN104142495A公开(公告)日: 2014-11-12
- 发明人: 李光廷 , 李财品 , 朱雅琳 , 王旭艳 , 赵泓懿 , 王伟伟 , 黎薇萍 , 杨晓超 , 刘波
- 申请人: 西安空间无线电技术研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市长安区西街150号
- 专利权人: 西安空间无线电技术研究所
- 当前专利权人: 西安空间无线电技术研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市长安区西街150号
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 安丽
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40 ; G01S13/90
摘要:
本发明公开了一种基于频谱的斜视SAR点目标插值与剖面截取方法,首先将所截取的含有SAR点目标的图像变换至频域,进行频域图像的循环扩展;然后通过图像分割技术得到完整点目标频谱,并对所截取的频谱进行角点检测,计算得到旁瓣方向;再将频谱进行频域补零,通过傅里叶逆变换得到点目标插值图像;最后根据计算所得旁瓣方向截取点目标两方向剖面图用于进行点目标性能指标计算。本发明属于合成孔径雷达领域。
公开/授权文献
- CN104142495B 一种基于频谱的斜视SAR点目标插值与剖面截取方法 公开/授权日:2017-01-11