发明授权
CN104157585B 一种OLED发光层测试装置及测试方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 一种OLED发光层测试装置及测试方法
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申请号： CN201410370433.6申请日： 2014-07-30
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公开(公告)号： CN104157585B公开(公告)日： 2016-11-23
- 发明人: 向欣 , 禹浩荣 , 任海 , 成洛贤
- 申请人： 四川虹视显示技术有限公司
- 申请人地址： 四川省成都市高新区(西区)科新西街168号
- 专利权人： 四川虹视显示技术有限公司
- 当前专利权人： 四川虹视显示技术有限公司
- 当前专利权人地址： 四川省成都市高新区(西区)科新西街168号
- 代理机构： 成都宏顺专利代理事务所
- 代理商 周永宏
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; H01L51/56
摘要：
本发明公开了一种OLED发光层测试装置及测试方法，包括检测密封腔体、直角坐标机械手、驱动冶具、红外热像仪、机械手控制器、矩阵开关控制器、可编程驱动电源和上位机；本发明的OLED发光层测试装置及测试方法，能够快速检测出OLED发光层发热状况和膜厚。
公开/授权文献
- CN104157585A 一种OLED发光层测试装置及测试方法 公开/授权日：2014-11-19
IPC分类:
