发明授权
CN104241101B p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程
失效 - 权利终止
- 专利标题: p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程
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申请号: CN201410192857.8申请日: 2014-05-08
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公开(公告)号: CN104241101B公开(公告)日: 2017-09-05
- 发明人: 郭东昊 , 李成哲
- 申请人: 郭东昊
- 申请人地址: 中国台湾台北市大安区基隆路4段43号
- 专利权人: 郭东昊
- 当前专利权人: 郭东昊
- 当前专利权人地址: 中国台湾台北市大安区基隆路4段43号
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 臧建明
- 优先权: 102120872 20130613 TW
- 主分类号: H01L21/203
- IPC分类号: H01L21/203 ; C23C14/34 ; C23C14/06
摘要:
本发明提供一种p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程,此技术所使用的靶材,其组成以氮化镓为主,另外还包含两种以上的金属组成,利用改变靶材组成,掺杂铜、镁、锌等金属,可以溅镀出p型氮化镓、氮化铝镓、氮化铟镓等半导体薄膜。靶材组成设计是主要关键,其中金属组成除了要考虑材料性质外,还需考量靶材致密化能力与金属合金化的能力,如此才能制作出p型氮化镓为主相的半导体薄膜。此类溅镀过程所得薄膜,可部分取代传统MOCVD制造LED所需以氮化镓为主相的三族氮化物薄膜,也可应用于需要三族氮化物的薄膜电子元件。
公开/授权文献
- CN104241101A p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程 公开/授权日:2014-12-24
IPC分类: