发明授权
- 专利标题： 用于检测颗粒的改进的设备
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申请号： CN201380015374.4申请日： 2013-03-15
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公开(公告)号： CN104246475B公开(公告)日： 2016-04-13
- 发明人: 约翰·H·布坎南 , 村上久弥
- 申请人： 阿自倍尔株式会社
- 申请人地址： 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼
- 专利权人： 阿自倍尔株式会社
- 当前专利权人： 阿自倍尔株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼
- 代理机构： 上海市华诚律师事务所
- 代理商 肖华
- 优先权： 61/614,395 2012.03.22 US
- 国际申请： PCT/US2013/032017 2013.03.15
- 国际公布： WO2013/142318 EN 2013.09.26
- 进入国家日期： 2014-09-19
- 主分类号： G01N21/15
- IPC分类号： G01N21/15
摘要：
提供一种颗粒检测系统，包括具有入口喷嘴、出口喷嘴、以及在这两者之间被限定的询问区的感应室。通过对感应室进行加压以使其中的压力高于出口喷嘴中的压力，来防止被采样的环境气体中的颗粒逃离询问区。这是通过对感应室提供额外气体源来实现的，举例来说，通过使气体从入口流路直接转向至感应室。
公开/授权文献
- CN104246475A 用于检测颗粒的改进的设备 公开/授权日：2014-12-24
