发明授权
CN104272092B 使用量子点检测气体阻挡膜中的缺陷的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 使用量子点检测气体阻挡膜中的缺陷的方法
-
申请号： CN201380023523.1申请日： 2013-05-03
-
公开(公告)号： CN104272092B公开(公告)日： 2016-06-29
- 发明人: 奈杰尔·皮克特 , 纳瑟莉·格雷斯蒂
- 申请人： 纳米技术有限公司
- 申请人地址： 英国曼彻斯特
- 专利权人： 纳米技术有限公司
- 当前专利权人： 纳米技术有限公司
- 当前专利权人地址： 英国曼彻斯特
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 柳春琦
- 优先权： 61/642,934 2012.05.04 US
- 国际申请： PCT/IB2013/001251 2013.05.03
- 国际公布： WO2013/164697 EN 2013.11.07
- 进入国家日期： 2014-11-04
- 主分类号： G01N21/91
- IPC分类号： G01N21/91 ; G01N21/64
摘要：
通过在气体阻挡膜中的裂纹或缺陷内由气相前体形成纳米粒子，可以由其中形成的所述纳米粒子的直径测定裂纹宽度。量子点的光学吸收和发射波长受粒径支配。对于特定的材料，所述吸收和/或发射波长因此可以与所述粒径(如由如透射电子显微法TEM等技术测定的)相关联。因此，荧光测量技术和/或共焦显微法可以用于特定气体阻挡膜内形成的量子点的尺寸，允许测定缺陷的尺寸和性质两者。所述方法可以用于评估缺陷对所述气体阻挡膜的完整性的潜在影响。
公开/授权文献
- CN104272092A 使用量子点检测气体阻挡膜中的缺陷的方法 公开/授权日：2015-01-07