发明公开
- 专利标题: 一种测量结晶器热面热流密度、温度的方法
- 专利标题(英): Method for measuring density and temperature of heat flux of hot side of crystallizer
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申请号: CN201410782813.0申请日: 2014-12-16
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公开(公告)号: CN104458040A公开(公告)日: 2015-03-25
- 发明人: 王万林 , 周乐君 , 张海辉 , 江斌斌 , 谢森林 , 赵欢 , 马范军
- 申请人: 中南大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
- 专利权人: 中南大学
- 当前专利权人: 中南大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
- 代理机构: 长沙市融智专利事务所
- 代理商 颜勇
- 主分类号: G01K7/02
- IPC分类号: G01K7/02
摘要:
本发明涉及一种测量结晶器热面热流密度、温度的方法;属于连铸技术领域。本发明通过在连铸结晶器内合理的安装两组热电偶采集温度数据,再利用二维传热反问题将采集的结晶器壁内的温度数据转化成结晶器热面热流密度、温度。本发明具有较高的工业应用价值,能更加精确计算得到结晶器热面热流密度、温度。
公开/授权文献
- CN104458040B 一种测量结晶器热面热流密度、温度的方法 公开/授权日:2017-03-22