Invention Publication
- Patent Title: 用于测量集成光波导偏振消光比的装置及方法
- Patent Title (English): Device and method for measuring integrated optical waveguide polarization extinction ratio
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Application No.: CN201410723806.3Application Date: 2014-12-02
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Publication No.: CN104458212APublication Date: 2015-03-25
- Inventor: 郑光金 , 王高 , 王恒飞 , 陈坤峰 , 李国超
- Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中北大学
- Applicant Address: 山东省淄博市经济技术开发区香江路98号
- Assignee: 中国电子科技集团公司第四十一研究所,中北大学
- Current Assignee: 中国电子科技集团公司第四十一研究所,中北大学
- Current Assignee Address: 山东省淄博市经济技术开发区香江路98号
- Agency: 北京众合诚成知识产权代理有限公司
- Agent 龚燮英
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02

Abstract:
本发明提供一种用于测量集成光波导偏振消光比的装置及方法,该装置包括低偏振度宽光谱光源、偏振分束白光干涉仪以及信号检测和处理系统;其中,所述偏振分束白光干涉仪包括偏振分束器、参考臂、移动臂以及偏振合束器构成;通过采用光纤偏振分束器来实现两个正交偏振光的分离,并对偏振分束白光干涉仪各个保偏器件进行合理地连接,解决了基于分幅干涉仪结构的干涉合束后发生多次耦合和多点互耦合的难题,实现了对集成光波导的偏振消光比特征点进行精确定位和定量运算,消除了光源功率波动对测量结果的影响。
Public/Granted literature
- CN104458212B 用于测量集成光波导偏振消光比的装置及方法 Public/Granted day:2017-05-17
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