- 专利标题: 基于SoPC芯片的功能自动化测试系统及其测试方法
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申请号: CN201410706874.9申请日: 2014-11-27
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公开(公告)号: CN104459518B公开(公告)日: 2017-08-25
- 发明人: 王蕊 , 兰利东 , 赵元富 , 周华章 , 陆振林 , 舒磊 , 刘薇 , 李璟 , 李楠
- 申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 范晓毅
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法,该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块;本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中,按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试,避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时,针对各测试项目返回进行编译,可有效缩短测试时间,并降低测试难度和测试操作复杂度。
公开/授权文献
- CN104459518A 基于SoPC芯片的功能自动化测试系统及其测试方法 公开/授权日:2015-03-25