- 专利标题: 基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置及方法
- 专利标题(英): Xenon source virtual point source scale device and method based on point source efficiency function
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申请号: CN201410850162.4申请日: 2014-12-30
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公开(公告)号: CN104483698A公开(公告)日: 2015-04-01
- 发明人: 田自宁 , 欧阳晓平 , 张显鹏 , 刘林月 , 陈亮 , 刘金良 , 金鹏
- 申请人: 西北核技术研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市69信箱
- 专利权人: 西北核技术研究所
- 当前专利权人: 西北核技术研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市69信箱
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 王少文
- 主分类号: G01T1/167
- IPC分类号: G01T1/167
摘要:
本发明提供一种基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置,包括放射性氙气体体源、标准混合点源、探测器;所述放射性氙气体体源位于探测器的正上方不同高度;所述标准混合点源位于探测器的正上方相应高度;所述标准混合点源发射射线能量必须覆盖或接近放射性氙气体体源发射射线能量。本发明选用长半衰期的170T m点源放置在短半衰期的133Xe及其同位素气体体源的虚拟点位置来进行模拟刻度放射性133Xe气体源的效率,可以解决实际工作中有些标准133Xe及其同位素半衰期较短而无法使用较长时间的问题。
公开/授权文献
- CN104483698B 基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置及方法 公开/授权日:2017-05-03