Invention Publication
- Patent Title: 基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置及方法
- Patent Title (English): Xenon source virtual point source scale device and method based on point source efficiency function
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Application No.: CN201410850162.4Application Date: 2014-12-30
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Publication No.: CN104483698APublication Date: 2015-04-01
- Inventor: 田自宁 , 欧阳晓平 , 张显鹏 , 刘林月 , 陈亮 , 刘金良 , 金鹏
- Applicant: 西北核技术研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市69信箱
- Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市69信箱
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 王少文
- Main IPC: G01T1/167
- IPC: G01T1/167

Abstract:
本发明提供一种基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置,包括放射性氙气体体源、标准混合点源、探测器;所述放射性氙气体体源位于探测器的正上方不同高度;所述标准混合点源位于探测器的正上方相应高度;所述标准混合点源发射射线能量必须覆盖或接近放射性氙气体体源发射射线能量。本发明选用长半衰期的170T m点源放置在短半衰期的133Xe及其同位素气体体源的虚拟点位置来进行模拟刻度放射性133Xe气体源的效率,可以解决实际工作中有些标准133Xe及其同位素半衰期较短而无法使用较长时间的问题。
Public/Granted literature
- CN104483698B 基于点源效率函数的氙气源虚拟点源刻度装置及方法 Public/Granted day:2017-05-03
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