Invention Publication
CN104485990A 一种多路纤芯测试装置及方法
无效 - 驳回
- Patent Title: 一种多路纤芯测试装置及方法
- Patent Title (English): Multi-path fiber core test device and method
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Application No.: CN201410720243.2Application Date: 2014-12-02
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Publication No.: CN104485990APublication Date: 2015-04-01
- Inventor: 宋伟 , 赵庆凯 , 邢宁哲 , 袁卫国 , 苏丹 , 李垠韬 , 吴舜 , 徐鑫 , 庞思睿 , 张姣姣 , 芦博 , 闫磊 , 李环媛 , 杨睿 , 吴佳 , 高崧
- Applicant: 国家电网公司 , 国网冀北电力有限公司信息通信分公司
- Applicant Address: 北京市西城区西长安街86号
- Assignee: 国家电网公司,国网冀北电力有限公司信息通信分公司
- Current Assignee: 国家电网公司,国网冀北电力有限公司信息通信分公司
- Current Assignee Address: 北京市西城区西长安街86号
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 任默闻
- Main IPC: H04B10/071
- IPC: H04B10/071

Abstract:
本发明提供一种多路纤芯测试装置及方法,该装置包括:脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟;所述的光路开关设有多个光传输端口,每一光传输端口连接一备用光纤;脉冲发生器产生电脉冲信号,并发送至光源;光源将电脉冲信号转换为光脉冲信号,通过定向耦合器发送至光路开关;光路开关连接对应光传输端口的备用光纤,将光脉冲信号传送给该备用光纤并接收回馈的光信号,通过定向耦合器传输至光电检测器;光电检测器将光信号转换为电信号,输出至信号处理装置;信号处理装置根据电信号生成发光强度-距离性能曲线,传输至MCU芯片;MCU芯片根据该性能曲线对备用光纤的性能参数进行比对,生成测试结果。
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