发明公开
CN104528508A 一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法
- 专利标题(英): Non-contact type escalator multi-parameter measuring method based on photoelectricity testing part
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申请号: CN201410654613.7申请日: 2014-11-14
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公开(公告)号: CN104528508A公开(公告)日: 2015-04-22
- 发明人: 魏彪 , 唐媛 , 刘朝阳 , 吴德操 , 米德伶
- 申请人: 重庆大学
- 申请人地址: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- 专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人地址: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- 代理机构: 北京同恒源知识产权代理有限公司
- 代理商 赵荣之
- 主分类号: B66B27/00
- IPC分类号: B66B27/00 ; B66B25/00
摘要:
本发明涉及一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法,属于光学测量技术领域,包括以下步骤:1)开启光源,照亮自动扶梯;2)自动扶梯反射光线传送到光电检测器件上,扶梯的移动轨迹便会被记录为一组高速拍摄的连贯图像;输出图像信号,送入A/D转换模块进行转换;3)把转换结果送入图像处理模块进行处理,将此影像信号与存储的上一采样周期的影像进行比较;4)如果采样点在先后两个影像中的位置有移动,就将纵、横两个方向的位移信号发送到单片机系统,以判断被测物移动的方向以及位移;否则继续进行下一周期采样;5)将判断结果传送至监控终端,实现对扶梯的实时监测和控制。采用本方法进行测量,不与被测对象直接接触,在测量中不存在摩擦和对被测对象施加压力的问题,不会因磨损产生误差,能够实现被测物体的动态测量。
公开/授权文献
- CN104528508B 一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法 公开/授权日:2017-09-15