发明授权
- 专利标题: 光学测斜装置
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申请号: CN201410848945.9申请日: 2014-12-26
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公开(公告)号: CN104563080B公开(公告)日: 2016-09-14
- 发明人: 王红卫 , 程子聪 , 王新新
- 申请人: 上海建工集团股份有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区福山路33号
- 专利权人: 上海建工集团股份有限公司
- 当前专利权人: 上海建工集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区福山路33号
- 主分类号: G01C9/00
- IPC分类号: G01C9/00 ; E02D1/00
摘要:
本发明提供了一种用于测量地下水平形变的测斜装置,包括封闭壳体、电缆以及测读仪,所述封闭壳体设置光电位置传感器和激光发生器,所述激光发生器发射一束竖直向上的激光束照射到所述光电位置传感器上,所述的光电位置传感器将光点位置坐标信息通过所述的电缆传输到所述测读仪。通过提取光点的坐标信息,避免测得变形数值与实际变形不相符,同时采用常见的光学元件和简单供电回路,避免了一些非常精密的机械加工件,延长了所述测斜装置的使用寿命,从而大大降低了所述测斜装置的生产成本和使用成本。
公开/授权文献
- CN104563080A 光学测斜装置 公开/授权日:2015-04-29