发明授权
CN104568247B 一种薄膜应力量测方法及量测装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种薄膜应力量测方法及量测装置
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申请号: CN201310470964.8申请日: 2013-10-10
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公开(公告)号: CN104568247B公开(公告)日: 2017-05-17
- 发明人: 刘冲 , 彭思君 , 杨飞
- 申请人: 上海和辉光电有限公司
- 申请人地址: 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室
- 专利权人: 上海和辉光电有限公司
- 当前专利权人: 上海和辉光电股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室
- 代理机构: 上海唯源专利代理有限公司
- 代理商 曾耀先
- 主分类号: G01L1/24
- IPC分类号: G01L1/24
摘要:
本发明涉及一种薄膜应力量测方法及量测装置,属于测量技术领域。该薄膜应力量测方法及量测装置中,激光发射器投射至少两束激光投射到待量测的薄膜上,使得检测器在接受到经薄膜反射的反射光后,能根据多束反射光反射角之间的差值Δα修正薄膜应力,从而能够有效降低量测误差;同时,该量测装置还包括旋转镜组,能将超出量程的反射光投射到激光接收单元,以此扩大量测范围,进一步提高量测结果的精确度,且本发明的薄膜应力量测装置结构简单,成本低廉,量测方法应用方式简便,使用范围也较为广泛。
公开/授权文献
- CN104568247A 一种薄膜应力量测方法及量测装置 公开/授权日:2015-04-29