一种薄膜应力量测方法及量测装置
摘要:
本发明涉及一种薄膜应力量测方法及量测装置,属于测量技术领域。该薄膜应力量测方法及量测装置中,激光发射器投射至少两束激光投射到待量测的薄膜上,使得检测器在接受到经薄膜反射的反射光后,能根据多束反射光反射角之间的差值Δα修正薄膜应力,从而能够有效降低量测误差;同时,该量测装置还包括旋转镜组,能将超出量程的反射光投射到激光接收单元,以此扩大量测范围,进一步提高量测结果的精确度,且本发明的薄膜应力量测装置结构简单,成本低廉,量测方法应用方式简便,使用范围也较为广泛。
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