发明授权
- 专利标题: 无线终端天线性能测试系统
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申请号: CN201310482086.1申请日: 2013-10-15
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公开(公告)号: CN104569635B公开(公告)日: 2018-06-08
- 发明人: 李国政 , 谢辉 , 徐阳光
- 申请人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼207
- 专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 当前专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼207
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 张大威
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R21/133
摘要:
本发明提出一种无线终端天线性能测试系统,其包括:微波暗室,所述微波暗室包括屏蔽箱体、安装于所述屏蔽箱体内壁的吸波材料及测量天线;与所述测量天线相连的功率检测器;数模转换器。本发明实施例的无线终端天线性能测试系统通过功率检测器和数模转换器可以完成将射频信号经由电平信号转换为可直接读取数据即数字信号的任务,省掉了专用的测量仪器,整个过程无需综测仪的参与,降低了测试系统的配置成本。同时在非信令模式下完成天线性能在屏蔽条件下的精确测试,节省了测量仪器与被测无线终端建立连接等待的时间,降低了外界电磁干扰,提升了测试效率和准确度,特别适用于无线终端的产线测试。
公开/授权文献
- CN104569635A 无线终端天线性能测试系统 公开/授权日:2015-04-29