发明授权
- 专利标题： 去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统
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申请号： CN201410816820.8申请日： 2014-12-23
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公开(公告)号： CN104586394B公开(公告)日： 2017-04-12
- 发明人: 彭玺 , 梁栋 , 刘新 , 郑海荣
- 申请人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
- 专利权人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 当前专利权人： 中国科学院深圳先进技术研究院
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
- 代理机构： 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 吴平
- 主分类号： A61B5/055
- IPC分类号： A61B5/055 ; G06T5/00
摘要：
本发明提供了一种去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散加权图像的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。
公开/授权文献
- CN104586394A 去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统 公开/授权日：2015-05-06
