• 专利标题: 用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置
  • 申请号: CN201380045976.4
    申请日: 2013-07-18
  • 公开(公告)号: CN104603606B
    公开(公告)日: 2018-04-24
  • 发明人: T.汉尼曼M.莱因万德
  • 申请人: 西门子公司
  • 申请人地址: 德国慕尼黑
  • 专利权人: 西门子公司
  • 当前专利权人: 西门子公司
  • 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
  • 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
  • 代理商 谢强
  • 优先权: 102012217177.0 2012.09.24 DE
  • 国际申请: PCT/EP2013/065200 2013.07.18
  • 国际公布: WO2014/044430 DE 2014.03.27
  • 进入国家日期: 2015-03-03
  • 主分类号: G01N23/087
  • IPC分类号: G01N23/087
用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置
摘要:
本发明的内容是,除了强度之外附加地还引入X射线辐射的谱组成,用于确定由对象(7)引起的衰减。本发明的另一个方面是一种装置,特别是用于X射线或CT系统(1)的辐射监视器(M),其适合用于执行提到的按照本发明的过程。
0/0