- 专利标题: 具备内腔的设备部件以及具备内腔的设备部件的制造方法
-
申请号: CN201380049578.X申请日: 2013-06-18
-
公开(公告)号: CN104662399B公开(公告)日: 2016-10-26
- 发明人: 藤田博之 , 年吉洋 , 三屋裕幸
- 申请人: 国立大学法人东京大学 , 株式会社鹭宫制作所
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 国立大学法人东京大学,株式会社鹭宫制作所
- 当前专利权人: 国立大学法人东京大学,株式会社鹭宫制作所
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 丁文蕴; 杜嘉璐
- 优先权: 2012-210578 2012.09.25 JP
- 国际申请: PCT/JP2013/066674 2013.06.18
- 国际公布: WO2014/050229 JA 2014.04.03
- 进入国家日期: 2015-03-24
- 主分类号: G01L9/00
- IPC分类号: G01L9/00 ; B81B3/00 ; B81C1/00 ; H01L29/84
摘要:
本发明提供没有密封层侵入内腔内并填埋内腔的可能且能够以简单的工序形成具有作为预期目标的规定形状的内腔,并且作为设备具有期待功能的设备部件以及其制造方法。该设备部件具备:由半导体构成的基板部件(12);形成于基板部件(12)的上表面且具有绝缘性的中间层(14);形成于中间层(14)的上表面且由半导体构成的上面层(16);形成于上面层(16)的开口部(18);以及以密封开口部(18)的方式形成的透气性的密封层(20),内腔(22)是由透过密封层(20)的蚀刻气体来除去中间层(14)而形成的内腔(22)。
公开/授权文献
- CN104662399A 具备内腔的设备部件以及具备内腔的设备部件的制造方法 公开/授权日:2015-05-27