发明公开
CN104748682A 激光二维样板测量仪校准方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 激光二维样板测量仪校准方法
- 专利标题(英): Calibration method of measuring instrument for laser two-dimensional sample plate
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申请号: CN201510138276.0申请日: 2015-05-08
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公开(公告)号: CN104748682A公开(公告)日: 2015-07-01
- 发明人: 刘洪霞 , 李锋
- 申请人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市皇姑区陵北街1号
- 专利权人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
- 当前专利权人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市皇姑区陵北街1号
- 代理机构: 沈阳杰克知识产权代理有限公司
- 代理商 孙玲
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
本发明涉及一种激光二维样板测量仪校准方法,包括以下步骤:1)设置量块夹具;2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块;3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线Ⅰ、斜线Ⅱ、斜线Ⅲ和竖直线Ⅳ上进行扫描,通过软件计算量块尺寸测得值;4)然后将量块夹具水平翻转,再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线Ⅴ、斜线Ⅵ和斜线Ⅶ,再次进行扫描,通过软件计算量块尺寸测得值;5)将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对,评判测量仪是否合格。该方法填补了此项工作领域的空白,不但提高了工作能力,每年为公司节省了外送检定的费用,更为公司的生产进度做出计量保证。