- 专利标题: 一种考虑弧光电阻影响的相间阻抗整定计算方法
- 专利标题(英): Inter-phase impedance setting calculation method considering arc light resistance influences
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申请号: CN201510125014.0申请日: 2015-03-20
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公开(公告)号: CN104753041A公开(公告)日: 2015-07-01
- 发明人: 黄少锋 , 杜兆强 , 赵月 , 魏会利 , 伍叶凯 , 张月品
- 申请人: 北京四方继保自动化股份有限公司 , 华北电力大学
- 申请人地址: 北京市海淀区上地信息产业基地四街9号
- 专利权人: 北京四方继保自动化股份有限公司,华北电力大学
- 当前专利权人: 北京四方继保自动化股份有限公司,华北电力大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区上地信息产业基地四街9号
- 代理机构: 北京金阙华进专利事务所
- 代理商 吴鸿维
- 主分类号: H02H7/26
- IPC分类号: H02H7/26
摘要:
一种考虑弧光电阻影响的相间阻抗整定计算方法,以BC两相短路为例,通过电力系统故障分析对相间经过渡电阻Rg影响的分析得到,相间故障阻抗表达式为相间经弧光电阻短路时,BC相测量阻抗受弧光电阻影响的绝对值为考虑额定电压Ue为100V,并考虑电源波动、计算误差等因素,取可靠系数为K=1.5,于是,可以得到考虑弧光电阻影响的相间阻抗整定计算公式为通过将相间短路的正序测量阻抗与弧光电阻的影响在R-X复平面上画出来,可以得到,此边界应当能够较好地躲过负荷阻抗的影响。通过画出振荡轨迹与功角、整定阻抗的关系进行分析,从功角的角度分析了此整定方法进行相间阻抗整定时,可以耐受相当大的功角变化。
公开/授权文献
- CN104753041B 一种考虑弧光电阻影响的相间阻抗整定计算方法 公开/授权日:2017-11-24