• 专利标题: 一种适用于低温电学测试的连接装置及使用方法
  • 申请号: CN201510234623.X
    申请日: 2015-05-08
  • 公开(公告)号: CN104820116B
    公开(公告)日: 2016-08-24
  • 发明人: 魏凌张伟风尹延锋
  • 申请人: 河南大学
  • 申请人地址: 河南省开封市明伦街85号
  • 专利权人: 河南大学
  • 当前专利权人: 河南大学
  • 当前专利权人地址: 河南省开封市明伦街85号
  • 代理机构: 郑州联科专利事务所
  • 代理商 刘建芳; 李伊宁
  • 主分类号: G01R1/04
  • IPC分类号: G01R1/04
一种适用于低温电学测试的连接装置及使用方法
摘要:
本发明公开了一种适用于低温电学测试的连接装置,包括样品架,样品架的上表面设置有样品固定板,样品固定板上开设有通孔,导线的一端穿过通孔后与样品固定板上表面设置的焊点连接,导线的另一端与第一导电连接装置连接,第二导电连接装置与连接测试设备信号接入端的漆包线连接,第一导电连接装置和第二导电连接装置可拆卸连接。本发明能够克服现有待测样品与测试设备连接方式的不足,有效避免虚焊现象所造成的测试数据失真,降低测试人员的工作难度和工作强度,提高工作效率。
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