发明授权
CN104820116B 一种适用于低温电学测试的连接装置及使用方法
失效 - 权利终止
摘要:
本发明公开了一种适用于低温电学测试的连接装置,包括样品架,样品架的上表面设置有样品固定板,样品固定板上开设有通孔,导线的一端穿过通孔后与样品固定板上表面设置的焊点连接,导线的另一端与第一导电连接装置连接,第二导电连接装置与连接测试设备信号接入端的漆包线连接,第一导电连接装置和第二导电连接装置可拆卸连接。本发明能够克服现有待测样品与测试设备连接方式的不足,有效避免虚焊现象所造成的测试数据失真,降低测试人员的工作难度和工作强度,提高工作效率。
公开/授权文献
- CN104820116A 一种适用于低温电学测试的连接装置及使用方法 公开/授权日:2015-08-05