发明授权
CN104849593B 一种微带器件测试系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种微带器件测试系统
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申请号: CN201510240008.X申请日: 2015-05-12
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公开(公告)号: CN104849593B公开(公告)日: 2017-11-17
- 发明人: 邓龙江 , 黄崇维 , 谢海岩 , 汪晓光 , 陈良 , 梁迪飞 , 陆海涛 , 胡金涛 , 高天乐
- 申请人: 电子科技大学
- 申请人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构: 电子科技大学专利中心
- 代理商 张杨
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明涉及电子通信、微波技术领域,特别涉及一种微带器件测试系统。包括支架底座、夹具和矢量网络分析仪。矢量网络分析仪:在矢量网络分析仪的同轴电缆的内导体上开一个深1mm放置带状线内导体的槽。夹具:带状线置于固定装置内,并通过固定装置连接支架底座和同轴电缆。支架底座:由固定底座和可调高度底座组成。转接方式:带状线的内导体伸出1mm,插入矢量网络分析仪的同轴线内导体上的槽中;将带状线内导体伸出1mm,搭在微带线导带上。本发明具有如下优点:可适用多种尺寸的50欧姆微带线接口的器件;本测试系统插入损耗小,驻波小,测试结果精确。
公开/授权文献
- CN104849593A 一种微带器件测试系统 公开/授权日:2015-08-19