- 专利标题: 双栅极氧化物半导体TFT基板的制作方法及其结构
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申请号: CN201510175653.8申请日: 2015-04-14
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公开(公告)号: CN104900654B公开(公告)日: 2017-09-26
- 发明人: 葛世民 , 张合静 , 曾志远 , 苏智昱 , 李文辉 , 石龙强 , 吕晓文
- 申请人: 深圳市华星光电技术有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号
- 专利权人: 深圳市华星光电技术有限公司
- 当前专利权人: 深圳市华星光电技术有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号
- 代理机构: 深圳市德力知识产权代理事务所
- 代理商 林才桂
- 主分类号: H01L27/12
- IPC分类号: H01L27/12 ; H01L21/02 ; H01L21/426 ; H01L21/28 ; H01L21/34 ; H01L23/50 ; H01L29/423 ; H01L29/417 ; H01L29/786
摘要:
本发明提供一种双栅极氧化物半导体TFT基板的制作方法及其结构。该双栅极氧化物半导体TFT基板的制作方法使用半色调掩膜板进行一道光罩制程,既能够完成氧化物半导体层的图案化、又能够通过离子掺杂制得氧化物导体层(52’),该氧化物导体层(52’)作为LCD的像素电极替代现有技术中的ITO像素电极;通过一道光罩制程同时制得源极(81)、漏极(82)、与顶栅极(71);通过一道光罩制程同时对钝化层(8)、及顶栅绝缘层(32)进行图案化处理,光罩制程减少至五道,缩短了制作工序流程,提高了生产效率,降低了生产成本。
公开/授权文献
- CN104900654A 双栅极氧化物半导体TFT基板的制作方法及其结构 公开/授权日:2015-09-09
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