本发明描述一次性可编程集成电路安全。一种保护集成电路中的存储器资产的方法(300)的实例包含：对多个OTP存储器阵列(124、128)的值进行取样(320)；以及将每一OTP存储器阵列的所述取样值与每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较(340)。所述方法进一步包含：基于所述经比较的取样值来确定(360)集成电路性能故障是否已发生；启动(370)所述集成电路；以及通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作(380)所述集成电路。