本发明公开了一种测量高强度太赫兹时域光谱的装置和方法，所述装置包括：展宽器，用于将超短脉冲展宽为啁啾脉冲；分束器，用于将啁啾脉冲分为探测脉冲和参考脉冲；第一合束器，用于将太赫兹信号和所述探测脉冲进行合束；电光采样晶体，用于相位调制；光学延时器，用于将所述参考脉冲进行延时处理；第二合束器，用于将所述探测脉冲和所述参考脉冲进行合束，以形成合束光；透镜，用于将所述合束光进行聚焦处理；光谱仪，用于形成干涉条纹，并获取干涉条纹中的信号数据；处理器，获得所述太赫兹信号的时域光谱。本发明测量到的太赫兹时域光谱线性度高，解决测量过程中高强度太赫兹信号发生畸变，调制过度导致无法正确反映太赫兹信号波形的问题。