发明公开
CN104964992A X射线标准检测系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: X射线标准检测系统
- 专利标题(英): X ray standard detection system
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申请号: CN201510388896.X申请日: 2015-07-03
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公开(公告)号: CN104964992A公开(公告)日: 2015-10-07
- 发明人: 吴金杰 , 李论 , 王玉龙 , 陈法君
- 申请人: 中国计量科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 代理机构: 北京亿腾知识产权代理事务所
- 代理商 陈霁
- 主分类号: G01N23/00
- IPC分类号: G01N23/00
摘要:
本发明涉及一种X射线标准检测系统,包括:X射线发生装置,产生水平出射的X射线束;挡板,具由光阑;快门,包括具有通孔的挡板和可移动的遮光片;通孔的中心、光阑的中心、X射线束的中心在同一直线上;过滤装置,包括以通孔为中心位置对称设置的两组滤波转盘;每组滤波转盘包括N个滤光孔,滤光孔中夹设有滤光片;当滤波转盘旋转时,沿转动方向依次有两个滤光孔同时与通孔位置相对准,使X射线束由所述滤光孔中的滤光片进行滤光之后再由通孔出射;导轨平台包括:平行X射线束出束方向设置的导轨和在导轨上平行移动的测量检定平台;调整测量检定平台,使放置于测量检定平台上的待检物的中心与X射线束的中心相重合。
公开/授权文献
- CN104964992B X射线标准检测系统 公开/授权日:2017-10-20