发明授权
- 专利标题: 一种双大马士革集成工艺方法
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申请号: CN201510366840.4申请日: 2015-06-29
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公开(公告)号: CN104966694B公开(公告)日: 2018-01-26
- 发明人: 胡正军 , 李铭 , 陈寿面 , 赵宇航 , 周炜捷
- 申请人: 上海集成电路研发中心有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高斯路497号
- 专利权人: 上海集成电路研发中心有限公司
- 当前专利权人: 上海集成电路研发中心有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高斯路497号
- 代理机构: 上海天辰知识产权代理事务所
- 代理商 吴世华; 林彦之
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768
摘要:
本发明公开了一种双大马士革集成工艺方法,通过干法刻蚀在超低k介电材料层形成双大马士革结构后,进行第一次等离子体处理使双大马士革结构侧壁处的超低k介电材料改性成为二氧化硅,从而在后续的湿法工艺中可以防止药液渗入超低k介电材料的微孔,避免其对双大马士革结构的影响;在湿法工艺后,对其再进行第二次等离子体处理,使双大马士革结构侧壁处的二氧化硅再改性成为超低k介电材料,可避免湿法工艺对超低k介电材料造成的介质损伤,并能够充分利用现有真空腔体,容易实现工艺整合。
公开/授权文献
- CN104966694A 一种双大马士革集成工艺方法 公开/授权日:2015-10-07
IPC分类: