- 专利标题: 基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法
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申请号: CN201410137171.9申请日: 2014-04-04
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公开(公告)号: CN104970815B公开(公告)日: 2018-03-16
- 发明人: 郑海亮 , 李运祥 , 曹红光
- 申请人: 北京纳米维景科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区永澄北路2号院1号楼A座303室
- 专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区永澄北路2号院1号楼A座303室
- 代理机构: 北京汲智翼成知识产权代理事务所
- 代理商 陈曦; 董烨飞
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00
摘要:
本发明公开了一种基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法。其中,X射线经光源光栅整形后,变成相干X射线,穿过样品以后的含有相位变化的相干X射线经相位光栅,形成分束的X射线,再经过分析光栅后将X射线的相位变化转化成光强的变化,然后再由光子计数探测器记录下强度不同的X射线相衬信息,通过三维重建系统得到基于相位衬度的断层影像,最终获得软组织样品的组成成份和内部精细结构信息。本发明可以用于医院病理科、放射科和科研部门对软组织样品标本的检验,有利于发现组织样品中的细小病灶等早期病变信息,大大提高检出率。
公开/授权文献
- CN104970815A 基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法 公开/授权日:2015-10-14