- 专利标题： 借助于在光谱模式中使用的辐射探测器、尤其是X辐射或γ辐射探测器来测量剂量的方法以及使用该方法的剂量测量系统
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申请号： CN201480010193.7申请日： 2014-02-19
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公开(公告)号： CN105008961B公开(公告)日： 2017-11-17
- 发明人: 让-马克·丰博纳 , 让·科林 , 凯茜·丰博纳 , J·热埃纳
- 申请人： 阿雷瓦核废料回收公司
- 申请人地址： 法国库尔布瓦
- 专利权人： 阿雷瓦核废料回收公司
- 当前专利权人： 欧安诺再循环
- 当前专利权人地址： 法国库尔布瓦
- 代理机构： 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理商 徐川; 武晨燕
- 优先权： 1351585 2013.02.22 FR
- 国际申请： PCT/EP2014/053253 2014.02.19
- 国际公布： WO2014/128174 FR 2014.08.28
- 进入国家日期： 2015-08-24
- 主分类号： G01T1/02
- IPC分类号： G01T1/02
摘要：
本发明尤其适用于高能物理学，根据本发明，选择能量范围和剂量类型H；使用给定类型的辐射探测器(14)；针对给定类型的各个入射辐射，建立由所述探测器测量的光谱，所述各个辐射的能量在所选择的范围内，并且所述各个辐射各自的剂量是已知的；以及基于所述光谱确立加权函数，即平均剂量增量和储存在所述探测器中的平均能量之间的对应关系。这使得具有与已知的探测器等同的剂量计的人在任何时间都能够获知以量H表示的平均吸收剂量流。
公开/授权文献
- CN105008961A 借助于在光谱模式中使用的辐射探测器、尤其是X辐射或γ辐射探测器来测量剂量的方法以及使用该方法的剂量测量系统 公开/授权日：2015-10-28
