发明公开
- 专利标题: 热辅助磁头检查装置以及热辅助磁头检查方法
- 专利标题(英): Heat-assisted magnetic head inspection device and heat-assisted magnetic head inspection method
-
申请号: CN201480017624.2申请日: 2014-01-22
-
公开(公告)号: CN105051815A公开(公告)日: 2015-11-11
- 发明人: 石井慎次郎 , 村上真一郎
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 范胜杰; 文志
- 优先权: 2013-061718 2013.03.25 JP; 2013-203457 2013.09.30 JP
- 国际申请: PCT/JP2014/051278 2014.01.22
- 国际公布: WO2014/156247 JA 2014.10.02
- 进入国家日期: 2015-09-23
- 主分类号: G11B5/455
- IPC分类号: G11B5/455 ; G01Q30/06 ; G11B5/31
摘要:
热辅助磁头检查装置(1)具备:磁头磁场检测系统(36、37),其根据悬臂(10)的位移量测定热辅助磁头(11)所产生的磁场;近场光检测系统(20),其根据在悬臂位置产生的散射光测定热辅助磁头(11)所产生的近场光;光学系统工作台(2),其搭载近场光检测系统,在二维方向上移动;以及图像显示部,其通过照相机(35)拍摄悬臂和热辅助磁头的位置关系来进行显示。在更换了悬臂时,控制部(4)参照图像显示部计算悬臂的更换造成的位置偏离量,使光学系统工作台(2)移动计算出的位置偏离量。由此,在测定由热辅助磁头产生的磁场和近场光的情况下,即使在更换悬臂时产生位置偏离也会自动地对其进行调整。