发明公开
CN105074507A 透明基体的光学特性的评价方法、光学装置
无效 - 撤回
- 专利标题: 透明基体的光学特性的评价方法、光学装置
- 专利标题(英): Method for evaluating optical characteristics of transparent substrate, and optical device
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申请号: CN201480018254.4申请日: 2014-03-19
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公开(公告)号: CN105074507A公开(公告)日: 2015-11-18
- 发明人: 妹尾具展 , 小林裕介 , 大神聪司
- 申请人: 旭硝子株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 旭硝子株式会社
- 当前专利权人: 旭硝子株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 高培培; 车文
- 优先权: 2013-073375 2013.03.29 JP
- 国际申请: PCT/JP2014/057612 2014.03.19
- 国际公布: WO2014/156906 JA 2014.10.02
- 进入国家日期: 2015-09-25
- 主分类号: G02B1/11
- IPC分类号: G02B1/11 ; G02F1/13
摘要:
一种透明基体的光学特性的评价方法,是配置在显示装置的显示面侧的具有第一及第二表面的透明基体的光学特性的评价方法,其特征在于,使用透明基体的定量化了的析像度指标值及定量化了的反射像扩散性指标值这两个指标值,来评价所述透明基体的光学特性。