- 专利标题: 紫外光刻机曝光系统用精密介质膜反射镜及其镀制方法
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申请号: CN201510540067.9申请日: 2015-08-28
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公开(公告)号: CN105093852B公开(公告)日: 2017-07-11
- 发明人: 宋光辉 , 姚春龙 , 王银河 , 刘新华 , 战俊生 , 李文龙 , 雷鹏
- 申请人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
- 专利权人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
- 当前专利权人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
- 代理机构: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司
- 代理商 郭元艺
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G02B5/08 ; G02B1/10 ; C23C14/08 ; C23C14/28
摘要:
本发明属半导体集成电路制造领域,特别涉及一种紫外光刻机曝光系统用精密介质膜反射镜及其镀制方法,包括非球面基片(1)及交替叠置多层非周期膜;所述交替叠置多层非周期膜沉积于非球面基片(1)的内表面;交替叠置多层非周期膜包括高折射率镀膜材料层Ta2O5及低折射率膜材料层SiO2。本发明镀制方法包括a、开启真空室;b、控制镀膜温度;c、对非球面基片(1)进行蚀刻;d、镀制膜层。本发明吸收损失小,膜层表面机械强度高,日常维护清洁时不易出现划痕,光学特性稳定,使用周期长,成本低廉。
公开/授权文献
- CN105093852A 紫外光刻机曝光系统用精密介质膜反射镜及其镀制方法 公开/授权日:2015-11-25
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