本发明涉及一种用于多页存储阵列的损坏单元片内统计系统，包括锁存模块、锁存使能模块、回写地址模块、页缓存器回写模块、错误计数模块、验证结果锁存模块以及错误数目统计区，锁存模块位于读数据通路上，用于接收验证模块发送的成功标志位，并在接收到锁存使能模块发送的锁存信号的情况下，且当前地址的成功标志位为错误时，产生并保持错误操作结果给页缓存器，同时产生实时更新的错误结果给错误计数模块；本发明解决了现有的存储器芯片测试方法耗时久，测试复杂的技术问题，本发明的片内统计系统直接省略了后续的逐页读操作，极大的简化了测试序列，节省了测试时间，降低了测试成本。