发明公开
- 专利标题: 一种存储器寿命测试算法
- 专利标题(英): Memory service life test algorithm
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申请号: CN201510523522.4申请日: 2015-08-24
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公开(公告)号: CN105097050A公开(公告)日: 2015-11-25
- 发明人: 郑坚江 , 许大帅 , 郜波 , 何涛
- 申请人: 宁波三星智能电气有限公司 , 中国电力科学研究院
- 申请人地址: 浙江省宁波市江北区慈城镇枫林路16号
- 专利权人: 宁波三星智能电气有限公司,中国电力科学研究院
- 当前专利权人: 宁波三星智能电气有限公司,中国电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 浙江省宁波市江北区慈城镇枫林路16号
- 代理机构: 杭州丰禾专利事务所有限公司
- 代理商 张强
- 主分类号: G11C29/56
- IPC分类号: G11C29/56
摘要:
一种存储器寿命测试算法,存储器寿命测试程序中加入计算器单元,根据存储器数据手册设定额定寿命上限,再设定至少2倍额定寿命上限的极限寿命上限;如读写次数大于极限寿命上限,则判定存储器失效;如读写次数未超过极限寿命上限,则测试极限寿命上限加一次测试次数的测试总次数,然后连续对存储器的存储区域进行读写操作,每次写入的固定长度的数据都不同,并记录总的操作次数、总的写入错误次数、总的读取错误次数,测试总次数测试完成后,判定读写错误次数是否超过测试总次数的60%,如超过,判定存储器失效;如未超过,判定存储器未失效;本发明为批量供货的存储器寿命的检验,电能表的数据可靠性测试和表计存储算法提供了可靠、有力的依据。
公开/授权文献
- CN105097050B 一种存储器寿命测试方法 公开/授权日:2018-07-06