用于材料分析的方法和装置
摘要:
一种方法和一种热分析装置,该热分析装置具有保持元件(6)和至少一个温度探测器件(18),该保持元件具有用于试样保持器(8)的支承面(4),该温度探测器件对应于该试样保持器(8)。此外,本发明还涉及一种试样保持器(8)以及一种热分析装置的温度探测器件(18)的制造方法。为此,待探测的热流基本上通过限定的、位于支承面(4)和试样保持器(8)之间的接触点(16)引导至温度探测器件(18),其中支承面(44)和/或试样保持器(8)具有构成接触点(16)的隆起(34)或凹陷处(10),这些隆起或凹陷处限定出对应于该支承面(4)的相关的热流区,其中温度探测器件(18)的温度探测区(20)设置在相关的热流区的内部。对于构成为热电偶(18)的温度探测器件的制造方法来说,该温度探测器件包括至少两个由不同金属构成的元件,其中第一金属元件A借助比第二金属元件B更大的膨胀系数配合精确地装入构成为中空型材的第二金属元件B中,并且这两个元件A、B在第一工作步骤中加热并且随后在第二工作步骤中再次冷却。
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