发明公开
CN105143868A 用于材料分析的方法和装置
无效 - 撤回
- 专利标题: 用于材料分析的方法和装置
- 专利标题(英): Method and device for material analysis
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申请号: CN201480012265.1申请日: 2014-03-04
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公开(公告)号: CN105143868A公开(公告)日: 2015-12-09
- 发明人: T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , M·格拉德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·施默尔茨尔 , M·迈耶尔 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒
- 申请人: 耐驰-仪器制造有限公司
- 申请人地址: 德国塞尔布
- 专利权人: 耐驰-仪器制造有限公司
- 当前专利权人: 耐驰-仪器制造有限公司
- 当前专利权人地址: 德国塞尔布
- 代理机构: 北京市路盛律师事务所
- 代理商 刘世杰; 王桂玲
- 优先权: 102013102088.7 2013.03.04 DE
- 国际申请: PCT/DE2014/000105 2014.03.04
- 国际公布: WO2014/135150 DE 2014.09.12
- 进入国家日期: 2015-09-01
- 主分类号: G01N25/48
- IPC分类号: G01N25/48
摘要:
一种方法和一种热分析装置,该热分析装置具有保持元件(6)和至少一个温度探测器件(18),该保持元件具有用于试样保持器(8)的支承面(4),该温度探测器件对应于该试样保持器(8)。此外,本发明还涉及一种试样保持器(8)以及一种热分析装置的温度探测器件(18)的制造方法。为此,待探测的热流基本上通过限定的、位于支承面(4)和试样保持器(8)之间的接触点(16)引导至温度探测器件(18),其中支承面(44)和/或试样保持器(8)具有构成接触点(16)的隆起(34)或凹陷处(10),这些隆起或凹陷处限定出对应于该支承面(4)的相关的热流区,其中温度探测器件(18)的温度探测区(20)设置在相关的热流区的内部。对于构成为热电偶(18)的温度探测器件的制造方法来说,该温度探测器件包括至少两个由不同金属构成的元件,其中第一金属元件A借助比第二金属元件B更大的膨胀系数配合精确地装入构成为中空型材的第二金属元件B中,并且这两个元件A、B在第一工作步骤中加热并且随后在第二工作步骤中再次冷却。