发明公开
- 专利标题: 紫外分析仪计量性能检测方法及其系统
- 专利标题(英): Ultraviolet analyzer metering performance testing method and system
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申请号: CN201510654040.2申请日: 2015-10-10
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公开(公告)号: CN105241834A公开(公告)日: 2016-01-13
- 发明人: 龙阳 , 庄奕 , 李鑫 , 何健 , 吕艳莎
- 申请人: 广州广电计量检测股份有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号
- 专利权人: 广州广电计量检测股份有限公司
- 当前专利权人: 广州广电计量检测股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号
- 代理机构: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 周清华
- 主分类号: G01N21/33
- IPC分类号: G01N21/33
摘要:
本发明提供一种紫外分析仪计量性能检测方法及其系统,包括以下步骤:获取紫外分析仪的测量数据,根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数;根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值,并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。本发明通过紫外分析仪的测量数据,得到多项计量性能参数,通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值,并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得,其计算结果更全面,因此,提高了紫外分析仪计量检测的可靠性、准确度。
公开/授权文献
- CN105241834B 紫外分析仪计量性能检测方法及其系统 公开/授权日:2018-02-02
IPC分类: