发明授权
CN105304455B 一种真空弧离子源飞行时间质谱仪
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种真空弧离子源飞行时间质谱仪
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申请号: CN201510617788.5申请日: 2015-09-25
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公开(公告)号: CN105304455B公开(公告)日: 2017-03-29
- 发明人: 周长庚 , 高伟 , 邱瑞 , 谭国斌 , 柯建林
- 申请人: 中国工程物理研究院核物理与化 , 学研究所
- 申请人地址: 四川省绵阳市919信箱213分箱
- 专利权人: 中国工程物理研究院核物理与化,学研究所
- 当前专利权人: 中国工程物理研究院核物理与化,学研究所
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市919信箱213分箱
- 代理机构: 中国工程物理研究院专利中心
- 代理商 翟长明; 韩志英
- 主分类号: H01J49/40
- IPC分类号: H01J49/40 ; H01J49/02
摘要:
本发明提供一种真空弧离子源飞行时间质谱仪。在一个高真空腔室内,设置了真空弧离子源、离子门、三圆筒聚焦透镜、法拉第杯等设备。在离子源阳极与阴极之间加一个高压脉冲,真空弧放电,产生等离子体。在引出高压的作用下,脉冲离子束被引出。离子门开启,不同质荷比m/q的离子通过离子门并进入距离为L无场漂移区飞行一段时间,通过三圆筒聚焦透镜聚焦后,离子到达法拉第杯检测器。不同质荷比m/q的离子到达法拉第杯检测器的飞行时间tf 不同,因此,在示波器上显示出不同离子的飞行时间谱峰,横坐标上时间代表离子质荷比m/q,谱峰的峰值则代表离子数。因此可以得到含氘金属电极中离子成分。
公开/授权文献
- CN105304455A 一种真空弧离子源飞行时间质谱仪 公开/授权日:2016-02-03