发明授权
- 专利标题: 焊盘、半导体器件和半导体器件的制造工艺
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申请号: CN201410443164.1申请日: 2014-09-02
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公开(公告)号: CN105374775B公开(公告)日: 2018-05-04
- 发明人: 金晨 , 乔中辰
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 吴贵明; 张永明
- 主分类号: H01L23/488
- IPC分类号: H01L23/488 ; H01L21/48
摘要:
本申请提供了一种焊盘、半导体器件和半导体器件的制造工艺。焊盘包括:金属柱,金属柱的第一端具有凹部;焊料凸块,焊料凸块设置在金属柱的凹部处;焊垫,焊垫与金属柱的第二端连接。由于金属柱的第一端具有凹部,且焊料凸块设置在金属柱的凹部处,因而有效防止焊料凸块在回流工艺时顺着金属柱的边缘流下形成介金属化合物,从而有效避免焊料凸块过多消耗和金属柱机械强度变弱,进而提高了半导体器件的封装可靠性。同时,本申请中的焊盘具有结构简单、制造成本低的特点。
公开/授权文献
- CN105374775A 焊盘、半导体器件和半导体器件的制造工艺 公开/授权日:2016-03-02
IPC分类: