Invention Grant
CN105388473B 一种基于高分辨成像的近场RCS快速测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种基于高分辨成像的近场RCS快速测量方法
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Application No.: CN201510789988.9Application Date: 2015-11-17
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Publication No.: CN105388473BPublication Date: 2017-08-04
- Inventor: 方阳 , 孙超 , 王保平 , 宋祖勋 , 谭歆
- Applicant: 西北工业大学
- Applicant Address: 陕西省西安市友谊西路127号
- Assignee: 西北工业大学
- Current Assignee: 西北工业大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市友谊西路127号
- Agency: 西北工业大学专利中心
- Agent 金凤
- Main IPC: G01S13/89
- IPC: G01S13/89 ; G01S7/41 ; G01S13/88

Abstract:
本发明提供了一种基于高分辨成像的近场RCS快速测量方法,通过构建高分辨近场成像模型和构建字典,设计出稀疏观测矩,再设计RCS快速测量路径,最后图像求解得到目标高分辨像,本发明利用稀疏采样提高测量效率,利用压缩感知优化重构理论实现高分辨成像,由于采用稀疏观测与稀疏信号恢复理念,大幅改善了测量效率,解决了近场RCS测量耗时、测试所得大规模数据存储难的问题,利用所获取的稀疏观测信号结合压缩感知理论,打破传统成像机制,实现目标高分辨成像,为无损探测、隐匿物探测、隐身与反隐身设计提供强有力保障。
Public/Granted literature
- CN105388473A 一种基于高分辨成像的近场RCS快速测量方法 Public/Granted day:2016-03-09
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