发明授权
- 专利标题: 用于光学关键尺寸测量的方法及装置
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申请号: CN201410234193.7申请日: 2014-05-29
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公开(公告)号: CN105444666B公开(公告)日: 2018-05-25
- 发明人: 王鑫 , 施耀明 , 张振生 , 徐益平
- 申请人: 睿励科学仪器(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢
- 专利权人: 睿励科学仪器(上海)有限公司
- 当前专利权人: 睿励科学仪器(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 郑立柱
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00 ; G01B11/24
摘要:
本发明描述了一种在光学关键尺寸(OCD)测量设备中的提升光谱曲线匹配可靠性和测量精确度的方法及装置。其包括对各个待测结构参数在全体波长点的理论光谱进行灵敏度分析并获取灵敏度随波长分布;对各个待测结构参数的灵敏度随波长分布进行归一化处理;灵活设置统化权重系数并对所述归一化的灵敏度随波长分布进行统化处理;在理论光谱与测量光谱的匹配过程中在每个波长点设置匹配权重系数并对理论光谱与测量光谱进行评价优化操作以判定两者的匹配程度;这样,实现了匹配评价的优化设计并达到了待测结构参数拟合值精确度的提升。
公开/授权文献
- CN105444666A 用于光学关键尺寸测量的方法及装置 公开/授权日:2016-03-30