一种基于射频门的RFID性能评测方法
摘要:
本发明涉及一种基于射频门的RFID性能评测方法,具体包括:⑴基础信息建模;⑵选择测试模型;⑶性能测试;①单标签应用性能测试;②电表方向性测试;测试电力单相表与天线呈不同角度时所表现出来的性能;③群环境下单标签测试;④群环境下群标签测试。本发明在传统单标签性能评估的基础上,提出了针对群标签、射频门场景应用中的评估方法。
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