发明授权
- 专利标题: 一种离子漏斗和质谱检测系统
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申请号: CN201610023503.X申请日: 2016-01-14
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公开(公告)号: CN105470096B公开(公告)日: 2018-06-26
- 发明人: 许华磊 , 翟雁冰 , 徐伟
- 申请人: 苏州倍优精密仪器有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市吴中区木渎镇珠江南路999号3幢A315室
- 专利权人: 苏州倍优精密仪器有限公司
- 当前专利权人: 苏州安益谱精密仪器有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市吴中区木渎镇珠江南路999号3幢A315室
- 代理机构: 北京欣永瑞知识产权代理事务所
- 代理商 张庆敏; 常旭
- 主分类号: H01J49/10
- IPC分类号: H01J49/10 ; H01J49/02 ; H01J49/26
摘要:
本发明提供一种离子漏斗和质谱检测系统,该离子漏斗包括M个外径相同且同轴等间距排列的环形电极,内径从第1环形电极至第M环形电极依次减小,离子漏斗还包括:第一直流电源和第二直流电源,第一射频电源至第N射频电源;第一直流电源和第二直流电源分别连接至第一环形电极和第M环形电极,并通过分压电阻将M个电极串联起来;第一射频电源并联第1、第1+N、第1+2N……环形电极;第二射频电源并联第2、第2+N、第2+2N……环形电极;……;第N‑1射频电源并联第N‑1、第N‑1+N、第N‑1+2N……环形电极;第N射频电源并联第N、第N+N、第N+2N……环形电极。本发明提高了离子的传输效率,尤其是提高了小质量数离子的传输效率。
公开/授权文献
- CN105470096A 一种离子漏斗和质谱检测系统 公开/授权日:2016-04-06