Invention Grant
- Patent Title: 触摸面板检查装置和方法
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Application No.: CN201510644460.2Application Date: 2015-10-08
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Publication No.: CN105486687BPublication Date: 2020-05-15
- Inventor: 洪昇均 , 金东均
- Applicant: 东友精细化工有限公司
- Applicant Address: 韩国全罗北道
- Assignee: 东友精细化工有限公司
- Current Assignee: 东友精细化工有限公司
- Current Assignee Address: 韩国全罗北道
- Agency: 北京市中伦律师事务所
- Agent 石宝忠
- Priority: 10-2014-0134956 2014.10.07 KR
- Main IPC: G01N21/88
- IPC: G01N21/88

Abstract:
本发明公开触摸面板检查装置和方法。根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置,包括:图像获得部,其中,获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glass sheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像;区域设定部,其中,接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell‑to‑cell)比较区域的输入;和缺陷检测部,其中,在上述图像中进行用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素的第1图像检查和用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域的第2图像检查中的至少一个,检测上述玻璃片上的缺陷。
Public/Granted literature
- CN105486687A 触摸面板检查装置和方法 Public/Granted day:2016-04-13
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