发明公开
CN105500186A 晶片抛光用抛光垫及抛光垫的自吸附方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 晶片抛光用抛光垫及抛光垫的自吸附方法
- 专利标题(英): Polishing pad for wafer polishing and self-absorption method thereof
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申请号: CN201610040622.6申请日: 2016-01-21
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公开(公告)号: CN105500186A公开(公告)日: 2016-04-20
- 发明人: 夏秋良
- 申请人: 苏州新美光纳米科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城西北区20幢1楼南
- 专利权人: 苏州新美光纳米科技有限公司
- 当前专利权人: 苏州新美光纳米科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城西北区20幢1楼南
- 代理机构: 无锡市大为专利商标事务所
- 代理商 曹祖良; 张涛
- 主分类号: B24B37/34
- IPC分类号: B24B37/34 ; B24B37/04
摘要:
本发明涉及一种抛光垫及吸附方法,尤其是一种晶片抛光用抛光垫及抛光垫的自吸附方法,属于化学机械抛光的技术领域。按照本发明提供的技术方案,所述晶片抛光用抛光垫,包括抛光垫体;其特征是:所述抛光垫体上设置具有吸附能力的吸附体,抛光垫体能通过吸附体与抛光大盘固定连接。本发明结构紧凑,实现抛光垫体与抛光大盘的有效连接固定,更换方便,有效减少对抛光大盘的损伤概率,提高抛光效率,适应范围广,安全可靠。