- 专利标题: 基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统及其检测方法
-
申请号: CN201511019849.4申请日: 2015-12-30
-
公开(公告)号: CN105510364B公开(公告)日: 2019-02-19
- 发明人: 王慧明 , 刘东华 , 周志勇 , 戴亚康 , 郑健
- 申请人: 苏州科耐视智能科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市工业园区仁爱路150号
- 专利权人: 苏州科耐视智能科技有限公司
- 当前专利权人: 苏州国科康成医疗科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市工业园区仁爱路150号
- 代理机构: 北京远大卓悦知识产权代理事务所
- 代理商 史霞
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
本发明公开了一种基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统,包括:X射线成像设备,其接收穿透待检工业部件的X射线,所述X射线成像设备设置有相互连接的信号探测部件和成像部件;图像增强部件,其实时接收所述X射线成像设备生成的原始图像信号,并对所述原始图像信号进行信号加强处理后得到增强图像信号;图像采集卡,其与所述图像增强部件连接;以及图像工作站,其设置有相互连接的缓冲部和缺陷识别部,所述图像采集卡将采集到的所述增强图像信号传送到所述缓冲部。本发明解决了现有技术中缺陷探测效率低下、可重复性差、且极易出现差错的技术问题。
公开/授权文献
- CN105510364A 基于X射线的工业部件缺陷的无损检测系统及其检测方法 公开/授权日:2016-04-20