发明公开
- 专利标题: 一种测定ReBCO高温超导薄膜组成的方法
- 专利标题(英): Method for measuring composition of ReBCO high-temperature superconducting films
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申请号: CN201510957687.2申请日: 2015-12-18
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公开(公告)号: CN105572106A公开(公告)日: 2016-05-11
- 发明人: 陆玲 , 胡宗林 , 庄维伟 , 蔡渊
- 申请人: 苏州新材料研究所有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市工业园区星湖街218号C-18楼
- 专利权人: 苏州新材料研究所有限公司
- 当前专利权人: 苏州新材料研究所有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市工业园区星湖街218号C-18楼
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 常亮
- 主分类号: G01N21/73
- IPC分类号: G01N21/73 ; G01N1/28
摘要:
一种测定ReBCO高温超导薄膜组成的方法,包括样品制备、测定参数设定、测定溶液输入、测定及测定结果分析的步骤,建立了可靠的高温超导金属氧化物薄膜组成的精确测定方法,首先开辟出微波等离子体原子发射光谱仪在高温超导薄膜组成测定方面的应用,可以确定高温超导薄膜的组成对超导电流的影响,以及建立MOCVD化学源溶液中金属离子的配比与超导薄膜组成的关系。