- 专利标题: 一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法
-
申请号: CN201510938409.2申请日: 2015-12-15
-
公开(公告)号: CN105572215B公开(公告)日: 2018-06-22
- 发明人: 汪正 , 张国霞 , 李青 , 朱燕
- 申请人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区定西路1295号
- 专利权人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区定西路1295号
- 代理机构: 上海瀚桥专利代理事务所
- 代理商 曹芳玲; 郑优丽
- 主分类号: G01N27/64
- IPC分类号: G01N27/64 ; G01N1/28
摘要:
本发明涉及一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法,所述方法采用氧化铅粉末加混合标准溶液制备而成的压片作为固体标准参考物质,以氧化铅粉末中的206Pb作为内标元素,利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析氟化铅晶体中元素含量及分布。本发明采用简单快速的标样制备方法,得到性能稳定,均匀性好的固体参考物质,且得到的标准曲线具有较好的线性相关性,从而对高纯氟化铅样品进行定量及分布研究。本发明的方法可直接固体进样分析,无需前处理,无需将固体制备成溶液,也可得到晶体表面元素的分布情况。
公开/授权文献
- CN105572215A 一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法 公开/授权日:2016-05-11