Invention Grant
- Patent Title: 通过量子计数检测器来优化信号检测
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Application No.: CN201510765334.2Application Date: 2015-11-10
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Publication No.: CN105581804BPublication Date: 2019-01-04
- Inventor: S·卡普勒
- Applicant: 西门子股份公司
- Applicant Address: 德国慕尼黑
- Assignee: 西门子股份公司
- Current Assignee: 西门子医疗股份公司
- Current Assignee Address: 德国福希海姆
- Agency: 北京市金杜律师事务所
- Agent 王茂华; 潘聪
- Priority: 102014222855.7 2014.11.10 DE
- Main IPC: A61B6/00
- IPC: A61B6/00 ; A61B6/03

Abstract:
描述了一种用于设置具有多个像素(4)的x射线检测器的巨像素信号(S)的检测的方法(200),该多个像素每个被组合以形成至少一个巨像素并且每个检测单个信号(si)。在该方法(200)中,首先建立单个像素(4)的几何效率(ei)和信号漂移因素(di)。另外,建立目标漂移值(t)。还定义了参数(λ),其设置巨像素信号S的允许漂移和可实现剂量效率之间的折中。基于建立的参数,考虑将得到的巨像素信号的信号漂移以及还有剂量利用考虑在内的取决于像素信号(si)的权重(wi)的函数(f(wi))来建立单个像素信号的权重(wi)。最后,基于建立的权重(wi)来定义形成巨像素信号(S)的单个像素信号(si)的加权相加。
Public/Granted literature
- CN105581804A 通过量子计数检测器来优化信号检测 Public/Granted day:2016-05-18
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