发明授权
- 专利标题： 一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪
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申请号： CN201510565578.6申请日： 2015-09-08
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公开(公告)号： CN105606220B公开(公告)日： 2017-12-08
- 发明人: 袁琨 , 吴逸萍
- 申请人： 杭州彩谱科技有限公司 , 中国计量学院
- 申请人地址： 浙江省杭州市经济技术开发区学源街现代科技学院逸夫科技楼1208
- 专利权人： 杭州彩谱科技有限公司,中国计量学院
- 当前专利权人： 杭州彩谱科技有限公司,中国计量大学
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市经济技术开发区学源街现代科技学院逸夫科技楼1208
- 代理机构： 杭州浙科专利事务所
- 代理商 吴秉中
- 主分类号： G01J3/46
- IPC分类号： G01J3/46
摘要：
本发明公开了一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取的最大值对应像元记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机后进行以上校正过程，得到的最大值对应像元，看与是否相同。
公开/授权文献
- CN105606220A 一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪 公开/授权日：2016-05-25
