- 专利标题: 嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存
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申请号: CN201610135967.X申请日: 2016-03-10
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公开(公告)号: CN105609142B公开(公告)日: 2018-07-31
- 发明人: 李鸣
- 申请人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- 专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 张振军; 吴敏
- 主分类号: G11C29/50
- IPC分类号: G11C29/50
摘要:
种嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存,所述嵌入式闪存的检测电路适于检测嵌入式闪存在编程状态下的编程电压或在擦除状态下的擦除电压,包括:测试通道选择电路,与固定测试点耦接,测试通道选择电路输入有使能信号;电压比较电路,与测试通道选择电路耦接;其中,当使能信号为第逻辑电平时,固定测试点经由测试通道选择电路对编程电压或擦除电压进行检测;当使能信号为不同于第逻辑电平的第二逻辑电平时,固定测试点经由测试通道选择电路耦接至电压比较电路,电压比较电路将编程电压或擦除电压与固定测试点上的参考电压进行比较以产生检测结果;所述检测结果适于传输至微调电路。本发明可大大缩短编程电压或擦除电压的检测时间。
公开/授权文献
- CN105609142A 嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存 公开/授权日:2016-05-25