发明授权
- 专利标题: RFID产品驻波比自动测试系统
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申请号: CN201511018983.2申请日: 2015-12-29
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公开(公告)号: CN105652091B公开(公告)日: 2018-12-04
- 发明人: 段文彬 , 杨红 , 胡冲 , 刘艇 , 关敬涛 , 王良前
- 申请人: 重庆微标科技股份有限公司
- 申请人地址: 重庆市渝北区黄山大道中段5号水星科技大厦南翼写字楼4层6号
- 专利权人: 重庆微标科技股份有限公司
- 当前专利权人: 重庆微标科技股份有限公司,民航成都物流技术有限公司
- 当前专利权人地址: 重庆市渝北区黄山大道中段5号水星科技大厦南翼写字楼4层6号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 尹丽云
- 主分类号: G01R27/06
- IPC分类号: G01R27/06 ; H04L12/26
摘要:
本发明提供一种RFID产品驻波比自动测试系统,包括若干失配负载,为系统模拟不同的失配反射情形;网络分析仪,作为标准仪器校准各失配通道实际驻波比;多通道切换单元,连接若干失配负载和网络分析仪,提供高隔离射频通道,并通过连接计算机建立对应于每个失配负载的失配回路;服务器,记录RFID产品的测量配置参数、以及保存测试结果;计算机,连接服务器和网络分析仪,读取服务器中的测量配置参数并通过连接网络分析仪和多通道切换单元来建立用于RFID产品驻波比自动测试的失配回路,适于对连接在系统上的RFID产品进行驻波比自动测试并将测试结果发送至服务器予以保存,本发明将现有的RFID产品驻波比手动测试方式计算机化,提高了测试效率。
公开/授权文献
- CN105652091A RFID产品驻波比自动测试系统 公开/授权日:2016-06-08